2018年5月20-23日，第12届电介质材料性能及其应用国际会议（IEEE 12th International Conference on Properties and Application of Dielectric materials, ICPADM 2018）在西安举行。来自中国、美国、日本、韩国、英国、澳大利亚、加拿大等20个国家的近300名专家学者汇聚一堂，交流前沿学术成果，共同探讨本领域发展前景。HJC黄金城登录李盛涛教授担任大会主席。HJC黄金城登录副校长荣命哲教授、ICPADM国际顾问委员会主席Harry Orton、中国工程院院士雷清泉教授出席会议并致辞。

电介质材料性能及其应用国际会议设立“纪念刘子玉讲座”，以纪念为创建该会议作出杰出贡献的HJC黄金城登录刘子玉教授。第12届“纪念刘子玉讲座”邀请了日本东京城市大学Y.Tanaka教授，他介绍了PEA方法在电介质空间电荷特性研究中的新进展。会议邀请学术界和工业界的专家做特邀报告，与会学者围绕“纳米电介质”、“空间电荷”、“局部放电”、“电导与击穿”、“老化与寿命评估”等主题进行了热烈的讨论和交流。

会议期间组织了“电介质老化”、“高端电力电缆”和“纳米电介质”三个研讨会，三个主题紧密契合行业发展前沿，为与会者提供了良好的交流平台。特邀报告嘉宾借助这一平台和与会代表、我校师生进行了深入交流，有力地推动了学科交叉及校际合作。

本次大会由IEEE DEIS主办，HJC黄金城登录电力设备电气绝缘国家重点实验室承办。该会议由HJC黄金城登录电气绝缘专业发起，每三年举办一次，第1届电介质材料性能及其应用国际会议在HJC黄金城登录举行，刘子玉教授担任主席。